有许多因素会影响老化房老化测试系统的整体性能，下面是一些主要方面：
1．老化房计算机主机与测试系统之间的通信。由于功能测试程序非常长，因此测试硬件的设计应尽可能提高速度。一些系统使用较慢的串行通信，如RS-232C或者类似协议，而另一些系统则使用双向并行总线系统，大大提高了数据流通率。
2．根据时间动态改变测试参数的能力，如电压与频率。如果老化测试系统能够即时改变参数，则可以加快通常属于产品寿命后期阶段故障的出现。对于某些器件结构，直流电压偏置及动态信号的功率变动都可加速出现晚期寿命故障。
3．系统提供参数测试的能力。如果老化测试系统能进行一些速度测试，那么还可得到其他一些相关失效数据以进行可靠性研究，这也有助于精简老化后测试工艺。
4．对高速测试仪程序的下载及转换能力。有些老化测试系统有自己的测试语言，对需要做100%节点切换的被测器件不用再开发程序；而有些系统能够把高速测试仪程序直接转换到老化应用上，可以在老化过程中进行更准确的测试。
5．计算机接口与数据采集方式。有些老化测试系统采用分区方法，一个数据采集主机控制多个老化板，另外有些系统则是单板式采集。从实际情况来看，单板式方法可以采集到更多数据，而且可能还具有更大的测试产量。
6．首先是老化房测试方法的选择。理想的情况是器件在老化工艺上花费的时间最少，这样可以提高总体产量。恶劣的电性能条件有助于故障加速出现，因此能快速进行反复测试的系统可减少总体老化时间。每单位时间里内部节点切换次数越多，器件受到的考验就越大，故障也就出现得更快。
7．老化房老化板互连性、PCB设计以及偏置电路的复杂性。老化测试系统可能被有些人称为高速测试，但是，如果机械连接或老化板本身特性会削弱信号质量，那么测试速度将会是一个问题。如像过多机电性连接会增大整个系统的总电容和电感、老化板设计不良会产生噪声和串扰、而很差的引脚驱动器设计则会使快速信号沿所需的驱动电流大小受到限制等等，这些都仅是一部分影响速度的瓶颈，另外由于负载过大并存在阻抗、电路偏置以及保护元件值的选择等也会使老化的性能受到影响。